
光学检测技术设备具备高精度和高速度的均衡,设备数量占比具有优势。根据技术路线的原理,检测和量测包括光学检测技术、电子束检测技术和X光量测技术等。与电子束检测技术相比,在相同条件下,光学技术的检测速度可以快1000倍以上。与X光量测技术相比,光学检测技术的适用范围更广,X光量测技术主要用于特定金属成分测量和超薄膜测量等特定的领域,适用场景相对较窄。应用光学检测技术的设备可以较好实现高精度和高速度的均衡,并且能够满足其他技术所不能实现的功能,如三维形貌测量、光刻套刻测量和多层膜厚测量等应用,因此,采用光学检测技术设备占多数。