资料来源:VLSI,中科飞测公告,国海证券研究所
注:晶圆薄膜量测设备包含晶圆金属薄膜量测设备、晶圆介质薄膜量测设备,关键尺寸量测设备包含电子束关键尺寸量测设备,掩膜版量测设备是指掩膜版关键尺寸量测设备,图形晶圆缺陷检测设备包含明场纳米图形晶圆缺陷检测设备、暗场纳米图形晶圆缺陷检测设备。