
•半导体量测、检测设备贯穿整个半导体制造过程。前道质量检测设备主要用于晶圆加工环节,是一种物理性、功能性的测试;后道测试设备属于电性能的检测。前道质量检测设备可分为:1)量测类设备:针对被观测晶圆上的电路结构尺寸和材料特性进行定量描述,对应设备分为椭偏仪、四探针、原子力显微镜、CD-SEM、OCD设备等:2)检测类设备:主要针对晶圆表面或电路结构,用于检测是否存在异质情况,产品包括膜厚/OCD量测设备、电子束量测设备、半导体硅片应力测量设备、明场光学缺陷检测设备等。
•据Semi数据,2022年半导体测试设备市场规模达76亿美元。根据SEMI数据,2022年中国占全球半导体设备市场规模26.6%,据此计算,预计2022年国内半导体测试设备市场规模约139亿元人民币。国外厂商在半导体测试设备领域长期居于垄断地位,其中,科磊在大部分前道测试设备市场中占据50%以上市场份额,在部分设备领域市占率达80%。