
封测主要包括金凸块制造(GoldBumping)、晶圆测试(CP)、玻璃覆晶封装(COG)/薄膜覆晶封装(COF)等工艺环节。金凸块制造,是晶圆入料检查完成后的首道工序,制造出的金凸块是后续引脚。晶圆测试,指用探针与晶圆上的每个晶粒接触进行电气连接以检测其电气特性,对于检测不合格的晶粒用点墨进行标识,通过点墨标识一方面可以直接计算出晶圆的良率,另一方面可以减少后续工序的工作量,提高封装的效率,有效降低整体封装的成本。COG,将芯片引脚直接与玻璃基板接合,故只需切割成型,后续引脚接合由面板或模组厂商负责。COF,FPC基板(卷带)上通常会设计输入端和输出端引脚,需要公司先将芯片的金凸块与卷带上的内引脚接合,之后由面板或模组厂商将外引脚与玻璃基板接合。
2023年全球DDIC封测市场约为26.2亿美元规模。赛迪顾问预计,2023年全球显示驱动芯片预计将达到26.2亿美元市场规模,并预计2025年继续增长到29.8亿美元。随着面板产业的崛起、国内集成电路设计产业的快速成长和资本投入的提高,显示驱动芯片封测业务加快向中国大陆转移,预计2023年国内DDIC封测市场约为66.8亿元规模,并有望在2025年达到80.3亿元。